Контрольно-измерительные приборы
Пн-Пт.: 09:00-18:00
Сб, Вс.: выходной
8 800 350-70-37
бесплатный звонок
Центральный офис в Москве: ул. Гиляровского, дом 51
ПН-ПТ.: 09:00-18:00
СБ, ВС.: Выходной
Телефон в москве
Бесплатный звонок
Центральный офис в москве
РАБОТАЕМ В БУДНИ С 9 ДО 18

ИК‐микроскоп Spotlight 400

Артикул: L1860116

Ключевые особенности:
Двойной детектор Duet для сканирования ИК‐изображения и для точечного сканирования
Сканирование ИК‐изображения в режимах пропускания и отражения
Три прибора в одном: система ИК‐изображения, ИК‐микроскоп, быстро сканирующий ИК‐Фурье спектрометр

Принцип
Система измерения ИК‐изображения с быстро сканирующим интерферометром, матричным детектором, НПВО‐зондом и системой НПВО‐изображения. Одновременная работа в ИК‐ и видимом диапазонах.
Режимы работы
пропускание, отражение, микро‐НПВО, НПВО‐изображение.
Спектральный диапазон
800 – 600см‐1 (сканирование в точке); 7800 – 720 см ‐1 (режим изображения)
Отношение Сигнал/Шум
лучше, чем 50000:1 (сканирование в точке), 800:1 (режим изображения).
цена по запросу
Доставка  в кратчайшие сроки
по Москве от 500
   
по России от 1000

Описание Spotlight 400

На базе ИК‐Фурье спектрометра Frontier создано новое поколение систем ИК‐изображения Spotlight 400. Это матричная система ИК‐изображения, использующая быстро сканирующий спектрометр вместо дорогих и сложных в эксплуатации систем с пошаговым сканированием.

Система Spotlight 400 – прибор, обладающий высокой скоростью сбора данных и непревзойденной чувствительностью. С его помощью можно получать изображения поверхности размером до 1,64 см2. Данные отображаются на мониторе в режиме реального времени. Патентованный матричный детектор Duet, объединяющий матричный и единичный МСТ детектор, обеспечивает работу прибора как в режиме ИК‐изображения, так и традиционное сканирование по точке и линии, а также работу в режиме микро‐НПВО и НПВО‐изображения.

С помощью системы Spotlight 400 в течение нескольких минут можно получить уникальную информацию о химическом составе образцов, выявить гомогенные области и определить неоднородности в составе и структуре изучаемых материалов, получив таким образом важную информацию о составе образца, дефектах и примесях. Применение уникальной системы НПВО‐ изображения позволяет повысить пространственное разрешение до 3 мкм, что достижимо только на электронных микроскопах.

Система ИК‐изображения Spotlight 400 находит широкое применение не только в материаловедении и криминалистике, но и биохимичес


Ключевые особенности:

  • Двойной детектор Duet для сканирования ИК‐изображения и для точечного сканирования

  • Сканирование ИК‐изображения в режимах пропускания и отражения

  • Три прибора в одном: система ИК‐изображения, ИК‐микроскоп, быстро сканирующий ИК‐Фурье спектрометр

Характеристики Spotlight 400

Параметр Характеристика
Принцип работы Система ИК-изображения с быстросканирующим интерферометром, матричным детектором, НПВО-зондом и системой НПВО-изображения. Одновременная работа в ИК- и видимом диапазонах
Режимы работы Пропускание, отражение, микро-НПВО, НПВО-изображение
Спектральный диапазон 7800–600 см⁻¹ (сканирование в точке)
7800–720 см⁻¹ (режим изображения)
Детектор Duet™ – объединяет матрицу из 16 MCT-детекторов и 1 MCT-детектора на одной подложке. Автоматическое переключение режимов. Гарантия отсутствия "мёртвых" пикселей. Геометрическая точность ±0,0013%
Линейность > 99%
Соотношение сигнал/шум > 50 000:1 (сканирование в точке)
800:1 (режим изображения)
Размер пикселя 50, 25, 6.25, 1.56 мкм
Время сканирования 1.6 с (изображение)
Скорость накопления 170 спектров полного диапазона в минуту
Отзывы Spotlight 400

Пока нет отзывов.

Обсуждение Spotlight 400

Пока нет обсуждений.

Документы Spotlight 400

Рекомендуемые товары
цена по запросу
Доставка  в кратчайшие сроки
по Москве от 500
   
по России от 1000
Нашли опечатку?
Нажмите Ctrl + Enter
Спасибо!
Телефон в москве
Бесплатный звонок
Центральный офис в москве
РАБОТАЕМ В БУДНИ С 9 ДО 18